一种工业缺陷识别方法、系统、计算设备及存储介质的发明专利

795次 2022-06-07 发明专利申请 

摘要:

本申请实施例公开了一种工业缺陷识别方法、系统、计算设备及存储介质,属于AI领域。在本申请实施例中,首先从待识别图像中提取目标区域,然后再从目标区域中获得包含有工业缺陷的缺陷粗选区域。通过两次区域提取,提高了工业缺陷相对背景的尺寸占比,能够提高小尺寸的工业缺陷的检出概率。在检测出包含有工业缺陷的缺陷粗选区域之后,对缺陷粗选区域中的工业缺陷进行进一步定位和尺寸估计,能够有效提高缺陷定位和尺寸估计的精度。另外,本申请实施例中不仅对缺陷类型进行了识别,还能够对工业缺陷进行定位和尺寸估计,丰富了工业缺陷的识别维度

一种工业缺陷识别方法、系统、计算设备及存储介质的发明专利

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